顆粒分析儀與目前常用的顆粒分析技術(shù)相比，不僅能夠測定顆粒的大小和數(shù)量，還能測量粒子的形狀、形態(tài)，對于顆粒組成、結(jié)構(gòu)、來源的分析有重要作用。

 

　　顆粒分析儀可以全面客觀的反應(yīng)顆粒的粒徑、粒型的全面量化參數(shù)，并且可以給出其他分析方法的對應(yīng)報(bào)告結(jié)果（沉降法、電阻法、激光法）達(dá)到一機(jī)多用的作用。該儀器可為微粉、磨料、金剛石、碳化硅、光伏等生產(chǎn)加工企業(yè)提供良好的產(chǎn)品質(zhì)量信息和生產(chǎn)工藝的。

 

　　顆粒跟蹤分析儀理論：

 

　　平移擴(kuò)散常數(shù)可通過直接觀測待測顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)計(jì)算得到。通過測試電泳遷移率，可以得到zeta電位。

 

　　納米粒子跟蹤分析（NTA）和動(dòng)態(tài)光散射（DLS）

 

　　所有的光散射儀器，包括粒子跟蹤技術(shù)，都存在一個(gè)問題：當(dāng)顆粒大小低于100nm時(shí)，靈敏度會(huì)迅速的降低。動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)的zui低檢測限是0.5nm，對于納米顆粒跟蹤分析，其zui低檢測限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區(qū)別就在于濃度范圍。對于DLS，當(dāng)樣品濃度太低時(shí)，顆粒跟蹤分析儀可以非常圓滿的完成檢測任務(wù)。相反，對于高濃度的樣品，DLS方法會(huì)非常的適合。

 

　　顆粒跟蹤分析儀測量范圍

 

　　測量范圍依賴于樣品和儀器。對于金樣品，顆粒跟蹤技術(shù)的檢測下限為10nm；相應(yīng)的，如果樣品的散射能力較弱，則檢測下限會(huì)變得更大。假如樣品穩(wěn)定，不會(huì)沉淀或漂浮，zeta電位測量的粒徑上限為50微米，對于粒徑測量為3微米。

 

　　源于視頻分析的顆粒計(jì)數(shù)

 

　　顆粒濃度可通過視頻分析得到，并歸一化處理，散射體積對粒徑?？蓹z測的zui小濃度為105粒子/cm3，zui大為1010粒子/cm3。對于200nm的顆粒，zui大體積濃度為1000ppm。

 

　　顆粒跟蹤分析儀特點(diǎn) - 全自動(dòng)和無源穩(wěn)定性

 

　　自動(dòng)校準(zhǔn)程序會(huì)持續(xù)工作，即便是樣品池被取出后。防震動(dòng)設(shè)計(jì)提高了視頻圖像的穩(wěn)定性。通過掃描多個(gè)子體積并進(jìn)行平均，就可以得到可靠的統(tǒng)計(jì)結(jié)果。有3種測量模式可供選擇：粒徑，zeta電位和濃度。樣品池通道集成在一個(gè)插入式的盒子中，盒子可提供溫度控制以及同管理單元的耦合。

 

　　顆粒分析儀型號(hào)量程及性能特點(diǎn)：

 

　　1、全自動(dòng)激光粒度儀操作簡便，測試全程自動(dòng)化，從分散介質(zhì)的加入、超聲、攪拌、到數(shù)據(jù)采集、測試輸出、清洗等過程均可自動(dòng)完成。

 

　　2、激光粒度儀采用濕法測試方式，超聲、攪拌分散，超聲、攪拌時(shí)間可自由設(shè)定。

 

　　3、粒度儀測試軟件設(shè)計(jì)人性化，界面友好，測試操作即學(xué)即會(huì)。

 

　　4、粒度儀應(yīng)用全程米氏散射理論，使測試結(jié)果更加真實(shí)可信。

 

　　5、顆粒分析儀的濃度指示系統(tǒng)，有效的降低了人為誤差對測試結(jié)果的影響。

 

　　6、激光粒度分析儀采用自行設(shè)計(jì)的40路光電探測器，使測試精度更高。

 

　　7、顆粒分析儀提供包括粒徑范圍、分布百分比、累積百分比、比表面積、平均粒徑、分布曲線、累積曲線、D50、D10、D90等全面分析統(tǒng)計(jì)結(jié)果。

 

　　8、便攜式設(shè)計(jì)，體積更小、重量更輕。

 

　　顆粒粒徑分析儀在監(jiān)測和評估過濾器的效率，定量監(jiān)測出水顆粒物，監(jiān)測和控制有害病原微生 物等方面提供準(zhǔn)確、及時(shí)的參考依據(jù)，可以保證飲水安全性，優(yōu)化生產(chǎn)工藝，提高出水水質(zhì)，節(jié)約生產(chǎn)成本。

 

　　顆粒粒徑分析儀是迄今為止功能zui全、分辨率zui高的顆粒計(jì)數(shù)及粒度分析儀。粒徑分析儀在做粉體測試時(shí)，粉體需*分散在*體內(nèi)，而且要非常稀釋，通常粉體的能量是0.1vol%以下。由于粉體相互干擾，或透光強(qiáng)度減弱，測量結(jié)果的正確性可能有問題。通常使用液體當(dāng)粉體的分散媒體，如果粉體非常細(xì)，有時(shí)也用空氣當(dāng)分散媒體。

 

　　粉體在粒徑分析時(shí)，*分散在媒體中非常重要，粉體不能集聚在一團(tuán)，以致儀器誤認(rèn)做單個(gè)粉體。通常當(dāng)粉體分散在媒體中時(shí)，都加少量的分散劑，并放在超聲波振蕩器中充分震蕩，使粉體*分散，常用的分散劑是焦磷酸鈉，帶很多電荷的焦磷酸根吸附于粉體表面，使每顆粉體產(chǎn)生很強(qiáng)的相互排斥力而彼此分開。

 

　　顆粒粒徑分析儀可在工業(yè)場所實(shí)時(shí)測量顆粒物濃度和粒徑，并可提供各種附件以滿足不同的監(jiān)測和粒徑分析的需要，直接使用現(xiàn)有的過程控制裝置計(jì)算制造過程趨勢和在線修正產(chǎn)品，代替或補(bǔ)充傳統(tǒng)顆粒測量的篩分方法。該儀器檢查和分析顆粒粒徑分布，粒徑范圍40m至40mm，使用一個(gè)電荷耦合照相機(jī)快速捕獲圖像。在照相機(jī)的可視區(qū)給料裝置提供持續(xù)不變的產(chǎn)品流。對材料進(jìn)行特殊的照明使得照相機(jī)能夠捕捉到粒狀產(chǎn)品的勾邊圖像，然后數(shù)字圖像被輸送到中央處理器pola-3000軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，并提供詳細(xì)的統(tǒng)計(jì)過程控制信息，用來解釋和分析顆粒粒徑分布。

 

　　顆粒粒徑分析儀可在工業(yè)場所實(shí)時(shí)測量顆粒物濃度和粒徑，并可提供各種附件以滿足不同的監(jiān)測和粒徑分析的需要，直接使用現(xiàn)有的過程控制裝置計(jì)算制造過程趨勢和在線修正產(chǎn)品，代替或補(bǔ)充傳統(tǒng)顆粒測量的篩分方法。

 

　　該儀器檢查和分析顆粒粒徑分布，粒徑范圍40m至40mm，使用一個(gè)電荷耦合照相機(jī)快速捕獲圖像。在照相機(jī)的可視區(qū)給料裝置提供持續(xù)不變的產(chǎn)品流。對材料進(jìn)行特殊的照明使得照相機(jī)能夠捕捉到粒狀產(chǎn)品的勾邊圖像，然后數(shù)字圖像被輸送到中央處理器pola-3000軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，并提供詳細(xì)的統(tǒng)計(jì)過程控制信息，用來解釋和分析顆粒粒徑分布。

 

　　顆粒粒徑分析儀是迄今為止功能zui全、分辨率zui高的顆粒計(jì)數(shù)及粒度分析儀。粒徑分析儀在做粉體測試時(shí)，粉體需*分散在*體內(nèi)，而且要非常稀釋，通常粉體的能量是0.1vol%以下。由于粉體相互干擾，或透光強(qiáng)度減弱，測量結(jié)果的正確性可能有問題。

 

　　通常使用液體當(dāng)粉體的分散媒體，如果粉體非常細(xì)，有時(shí)也用空氣當(dāng)分散媒體。粉體在粒徑分析時(shí)，*分散在媒體中非常重要，粉體不能集聚在一團(tuán)，以致儀器誤認(rèn)做單個(gè)粉體。通常當(dāng)粉體分散在媒體中時(shí)，都加少量的分散劑，并放在超聲波振蕩器中充分震蕩，使粉體*分散，常用的分散劑是焦磷酸鈉，帶很多電荷的焦磷酸根吸附于粉體表面，使每顆粉體產(chǎn)生很強(qiáng)的相互排斥力而彼此分開。

 

　　顆粒粒徑分析儀所有的光散射儀器，包括粒子跟蹤技術(shù)，都存在一個(gè)問題：當(dāng)顆粒大小低于100nm時(shí)，靈敏度會(huì)迅速的降低。動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)的zui低檢測限是0.5nm，對于納米顆粒跟蹤分析，其zui低檢測限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區(qū)別就在于濃度范圍。對于DLS，當(dāng)樣品濃度太低時(shí)，顆粒跟蹤分析儀可以非常圓滿的完成檢測任務(wù)。相反，對于高濃度的樣品，DLS方法會(huì)非常的適合。

 

　　顆粒分析儀與目前常用的顆粒分析技術(shù)相比，不僅能夠測定顆粒的大小和數(shù)量，還能測量粒子的形狀、形態(tài)，對于顆粒組成、結(jié)構(gòu)、來源的分析有重要作用。

 

　　顆粒分析儀可以全面客觀的反應(yīng)顆粒的粒徑、粒型的全面量化參數(shù)，并且可以給出其他分析方法的對應(yīng)報(bào)告結(jié)果（沉降法、電阻法、激光法）達(dá)到一機(jī)多用的作用。該儀器可為微粉、磨料、金剛石、碳化硅、光伏等生產(chǎn)加工企業(yè)提供良好的產(chǎn)品質(zhì)量信息和生產(chǎn)工藝的。

 

　　顆粒分析儀型號(hào)量程及性能特點(diǎn)：

 

　　1、全自動(dòng)激光粒度儀操作簡便，測試全程自動(dòng)化，從分散介質(zhì)的加入、超聲、攪拌、到數(shù)據(jù)采集、測試輸出、清洗等過程均可自動(dòng)完成。

 

　　2、激光粒度儀采用濕法測試方式，超聲、攪拌分散，超聲、攪拌時(shí)間可自由設(shè)定。

 

　　3、粒度儀測試軟件設(shè)計(jì)人性化，界面友好，測試操作即學(xué)即會(huì)。

 

　　4、粒度儀應(yīng)用全程米氏散射理論，使測試結(jié)果更加真實(shí)可信。

 

　　5、顆粒分析儀的濃度指示系統(tǒng)，有效的降低了人為誤差對測試結(jié)果的影響。

 

　　6、激光粒度分析儀采用自行設(shè)計(jì)的40路光電探測器，使測試精度更高。

 

　　7、顆粒分析儀提供包括粒徑范圍、分布百分比、累積百分比、比表面積、平均粒徑、分布曲線、累積曲線、D50、D10、D90等全面分析統(tǒng)計(jì)結(jié)果。

 

　　8、便攜式設(shè)計(jì)，體積更小、重量更輕。

 

　　1）篩分法：篩分法是一種zui傳統(tǒng)的粒度測試方法，也是過去zui常用的方法。它是使顆粒通過不同尺寸的篩孔來測試粒度的。篩分法分干篩和濕篩兩種形式，可以用單個(gè)篩子來控制單一粒徑顆粒的通過率，也可以用多個(gè)篩子疊加起來同時(shí)測量多個(gè)粒徑顆粒的通過率，并計(jì)算出百分?jǐn)?shù)。篩分法有手工篩、振動(dòng)篩、負(fù)壓篩、全自動(dòng)篩等多種方式。顆粒能否通過篩幾與顆粒的取向和篩分時(shí)間等素因素有關(guān)，不同的行業(yè)有各自的篩分方法標(biāo)準(zhǔn)。

 

　?。?）顯微鏡法：顆粒粒徑分析儀測量與實(shí)際顆粒投進(jìn)面積相同的球形顆粒的直徑即等效投影面積直徑。包括顯微鏡、CCD攝像頭（或數(shù)碼像機(jī)）、圖形采集卡、計(jì)算機(jī)等部分組成。它的基本工作原理是將顯微鏡放大后的顆粒圖像通過CCD攝像頭和圖形采集卡傳輸?shù)接?jì)算機(jī)中，由計(jì)算機(jī)對這些圖像進(jìn)行邊緣識(shí)別等處理，計(jì)算出每個(gè)顆粒的投影面積，根據(jù)等效投影面積原理得出每個(gè)顆粒的粒徑，再統(tǒng)計(jì)出所設(shè)定的粒徑區(qū)間的顆粒的數(shù)量，就可以得到粒度分布了。

 

　　由于這種方法單次所測到的顆粒個(gè)數(shù)較少，對同一個(gè)樣品可以通過更換視場的方法進(jìn)行多次測量來提高測試結(jié)果的真實(shí)性。除了進(jìn)行粒度測試之外，它還常用來觀察和測試顆粒的形貌

 

　?。?）刮板：顆粒粒徑分析儀把樣品刮到一個(gè)平板的表面上，觀察粗糙度，以此來評價(jià)樣品的粒度是否合格。此法是涂料行業(yè)采用的一種方法。

 

　?。?）沉降法：依據(jù)顆粒的沉降速度作等效對比，所測的粒徑為等效沉速徑，即用與被測顆粒具有相同沉降速度的同質(zhì)球形顆粒的直徑來代表實(shí)際顆粒的大小。有簡單的沉降瓶法和按此原理設(shè)計(jì)的粒度儀。例如一種納米顆粒粒度分析儀采用的是差示沉淀法進(jìn)行顆粒粒度的測量和分析。樣品被注入到高速旋轉(zhuǎn)的液體中，然后在離心力的作用下，樣品被快速沉淀并通過檢測頭被檢測并拾取。因?yàn)榇笮〔煌念w粒到達(dá)檢測頭的時(shí)間不同，因此通過記錄顆粒到達(dá)檢測頭的時(shí)間，就可以知道顆粒的大小，

 

　　（4）電阻法：電阻法又叫庫爾特法，是由美國一個(gè)叫庫爾特的人發(fā)明的一種粒度測試方法。這種方法是根據(jù)顆粒在通過一個(gè)小微孔的瞬間，占據(jù)了小微孔中的部分空間而排開了小微孔中的導(dǎo)電液體，使小微孔兩端的電阻發(fā)生變化的原理測試粒度分布的。小孔兩端的電阻的大小與顆粒的體積成正比。當(dāng)不同大小的粒徑顆粒連續(xù)通過小微孔時(shí)，小微孔的兩端將連續(xù)產(chǎn)生不同大小的電阻信號(hào)，通過計(jì)算機(jī)對這些電阻信號(hào)進(jìn)行處理就可以得到粒度分布了。

 

　?。?）激光衍射：顆粒粒徑分析儀利用顆粒對激光的散射特性作等效對比，所測出的等效粒徑為等效散射粒徑，即用與實(shí)際被測顆粒具有相同散射效果的球形顆粒的直徑來代表這個(gè)實(shí)際顆粒的大小。當(dāng)被測顆粒為球形時(shí)，其等效粒徑就是它的實(shí)際直徑。一般認(rèn)為激光法所測的直徑為等效體積徑。該方法測定速度快，不過從原理上講顆粒越小，衍射角越大，因此它可能更適合小顆粒。

 

　　（6）透氣法：透氣法也叫弗氏法。先將樣品裝到一個(gè)金屬管里并壓實(shí)，將這個(gè)金屬管安裝到一個(gè)氣路里形成一個(gè)閉環(huán)氣路。顆粒粒徑分析儀當(dāng)氣路中的氣體流動(dòng)時(shí)，氣體將從顆粒的縫隙中穿過。如果樣品較粗，顆粒之間的縫隙就大，氣體流邊所受的阻礙就?。粯悠份^細(xì)，顆粒之間的縫隙就小，氣體流動(dòng)所受的阻礙就大。透氣法就是根據(jù)這樣一個(gè)原理來測試粒度的。這種方法只能得到一個(gè)平均粒度值，不能測量粒度分布。這種方法主要用在磁性材料行業(yè)。

 

　?。?）超聲波法：通過不同粒徑顆粒對超聲波產(chǎn)生不同的影響的原理來測量粒度分布的一種方法。它可以直接測試固液比達(dá)到70%的高濃度漿料。

 

　?。?）相關(guān)法：用光子相關(guān)原理測量粒度的一種方法，主要用來測量納米材料的粒度分布。