顆粒粒徑分析儀是一種測量、呈現(xiàn)和報(bào)告特定粒子或者液滴群粒度分布的分析儀。它在工藝開發(fā)以及粒子系統(tǒng)質(zhì)量控制方面起到重要作用，可建立起高效的工藝和取得高質(zhì)量的最終產(chǎn)品。

 

　　工作原理：

　　動(dòng)態(tài)光散射法(DLS)，有時(shí)稱為準(zhǔn)彈性光散射法（QELS），是一種成熟的非侵入技術(shù)，可測量亞微細(xì)顆粒范圍內(nèi)的分子與顆粒的粒度及粒度分布，使用技術(shù)，粒度可小于1nm。動(dòng)態(tài)光散射法的典型應(yīng)用包括已分散或溶于液體的顆粒、乳劑或分子表征。懸浮在溶液中的顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)，造成散射光光強(qiáng)的波動(dòng)。分析光強(qiáng)的波動(dòng)得到顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度，再通過斯托克斯-愛因斯坦方程得到顆粒的粒度。

 

　　測量范圍：

　　測量范圍依賴于樣品和儀器。對于金樣品，顆粒跟蹤技術(shù)的檢測下限為10nm；相應(yīng)的，如果樣品的散射能力較弱，則檢測下限會變得更大。假如樣品穩(wěn)定，不會沉淀或漂浮，zeta電位測量的粒徑上限為50微米，對于粒徑測量為3微米。

 

　　產(chǎn)品特點(diǎn)：

　　1、顆粒粒徑分析儀集光學(xué)、電路、樣品池、超聲波分散、攪拌循環(huán)、全自動(dòng)清洗一體化，電腦控制下自動(dòng)對中。樣品在管道內(nèi)流動(dòng)的時(shí)間短，避免了樣品分散后的分層和重新團(tuán)聚。重復(fù)性、穩(wěn)定性達(dá)到國外同類儀器測量水平。

　　2、儀器采用先進(jìn)的成型工藝，使儀器的結(jié)構(gòu)緊湊合理，即測量單元和進(jìn)樣系統(tǒng)渾然一體，外形美觀大方，使用維護(hù)方便；采用新的抗干擾技術(shù)，使儀器的電氣穩(wěn)定性更好，故障率更低。

　　3、采用串行數(shù)據(jù)傳輸方式，可以方便地與各種筆記本電腦、臺式電腦連接組成粒度測試系統(tǒng)，*告別了傳統(tǒng)的板卡連接方式。

　　4、特別采取了防震、防塵、防潮設(shè)計(jì)，便于運(yùn)輸和在惡劣環(huán)境下工作。

　　5、可預(yù)置測試模式：針對各種不同的樣品，可預(yù)置不同的測試參數(shù)組合，使用戶能方便地獲得可靠、高再現(xiàn)性的測試結(jié)果。