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談干法粒度分析儀的工作原理
點(diǎn)擊次數(shù)：1980 更新時間：2015-10-26
干法粒度分析儀采用空氣作分散介質(zhì)，適用于任何干粉物料，特別是和水發(fā)生化學(xué)反應(yīng)以及在液體中發(fā)生形態(tài)變化的顆粒，具有*地準(zhǔn)確度和重復(fù)性，可用于研究機(jī)構(gòu)和企業(yè)的科學(xué)研究、新品開發(fā)、產(chǎn)品檢測和質(zhì)量控制，該干法粒度分析儀分為A、B兩個型號，區(qū)別在于量程的不同。
干法粒度分析儀的工作原理：
干法粒度分析儀采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。
顆粒測試的數(shù)據(jù)計算一般分為無約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計算前假設(shè)顆粒群符合某種分布規(guī)律，再根據(jù)該規(guī)律反演出粒度分布。這種運(yùn)算相對比較簡單，但由于事先的假設(shè)與實(shí)際情況之間不可避免會存在偏差，從而有約束擬合計算出的測試數(shù)據(jù)不能真實(shí)反映顆粒群的實(shí)際粒度分布。
無約束擬合反演即測試前對顆粒群不做任何假設(shè)，通過光強(qiáng)直接準(zhǔn)確地計算出顆粒群的粒度分布。這種計算前提是合理的探測器設(shè)計和粒度分級，給設(shè)備本身提出很高的要求。干法粒度分析儀采用*的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測器陣列和合理的粒度分級，從而能夠準(zhǔn)確地測量顆粒群的粒度分布。
