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“小貝開講“之如何通過激光粒度儀和庫爾特計(jì)數(shù)器實(shí)現(xiàn)粉體顆粒粒徑的粗和細(xì)的表征
點(diǎn)擊次數(shù)：1559 更新時(shí)間：2019-10-23
時(shí)間：2019年11月7日 10:30 - 11:00
內(nèi)容簡(jiǎn)介：
第1部分各種粉體粒度大小表征方法的簡(jiǎn)單介紹
第2部分激光粒度儀粒度表征的優(yōu)點(diǎn)和選擇好的激光粒度儀需要關(guān)注的參數(shù)
第3部分激光粒度儀的局限-分辨率比較粗，庫爾特計(jì)數(shù)器可以得到更細(xì)致的分辨率
主講人簡(jiǎn)介：
姚金龍
研究生畢業(yè)后先后在中科院上海有機(jī)所，上海高等研究院和某顆粒分析廠家工作，2019年正式加入貝克曼庫爾特公司。在激光粒度儀，納米粒度和Zeta電位分析儀、顆粒圖像分析儀、納米可視追蹤分析儀和粉體顆粒流變儀等具有5-10年的操作應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)。
