9月4日在廣州建國酒店舉行的“顆粒特性表征技術(shù)新進展”講座圓滿結(jié)束，來自廣東各地及華西南區(qū)的工礦企業(yè)、高校及研究單位的近百名客戶參加了本次講座。

        本次講座由貝克曼庫爾特公司美國總部資深技術(shù)專家、顆粒分析儀器屆人士許人良博士主講。在近4個半小時的時間里，許博士作精彩的演講。講座中他分別介紹了納米粒度測量的標準與相應(yīng)的測量新技術(shù)、貝克曼庫爾特公司*的美國---透明電極測量高濃度ZETA電位技術(shù)、創(chuàng)新的固體表面ZETA電位測量技術(shù)、粉體干法測量的先進技術(shù)----“龍卷風(fēng)”激光粒度儀，以及的Multisizer系列的庫爾特計數(shù)儀。

       在技術(shù)問答環(huán)節(jié)，由于聽眾提問踴躍，時間遠遠超出設(shè)定時間，使得“技術(shù)問答”環(huán)節(jié)一直延續(xù)到晚飯的飯桌之上........

許人良博士在演講

聽眾聚精會神

技術(shù)講座現(xiàn)場

聽眾提問